EN
EN
Durante hipot testing, insulating strength of the singulorum electrical components est tested equally. Est sic called for detecting problems (faults) in the equipment. This is also called a high potential test. For the hipot test, the piece of equipment receives a very high voltage supply, one very much greater than that which would normally be applied to the device in operation. This test is primarily conducted to detect a malfunction that could lead to electric shock and other hazardous conditions. This test allows us to confirm that equipment is safe for public use.
Hypo test est valde importantia quia fit antequam utendo in apparatu electrico. Hoc testificatur quod systema est tutum, et quod insulatio pro componentibus electricis (quae continet voltages ne deficiant) recte fungitur. Insulatio mala posset causare problemata quae impediant apparatum recte functionari vel, pessime omnium, causent laesionem. Id significat quod possumus omnia testificari in hipot, servando omnes tutores et certificando quod apparatus recte functionat sicut debet.
Test hipot implicat praebitionem voltium maiorem quam normalia equipamento. Hoc gradus potest esse 1.5 ad 3 vicibus maius quam voltia normalis operationis equipamenti. Voltia magna applicatur extensae distributioni equipamentorum pro tempore limitato, et deinde equipamentum est diligenter inspectum pro quibuslibet problematis qui possunt surgere. Hoc nobis permitit confirmare quod equipamentum potest sustinere voltiam cui subjicietur in casu actuali usus.
Plura negotia possunt influere in test hipot. Quaedam ex his factoribus includunt durationem testis, quantum voltium applicatur, temperatura equipamenti durante test, et umiditas aeris circa equipamentum. Hi sunt omnes status importantes quos tu debes cognoscere quoniam possunt affectare resultatum testis. Si hi factorii non controlantur, hoc potest dare falsa invenienda quae videbuntur confirmare quod apparatus est securus quando non est.
Fittings for the hipot test are available as well, but it is most practical to use just those that are already within the good for one test of the device.
AR
HR
CS
NL
FR
DE
EL
HI
IT
JA
KO
NO
PL
PT
RO
RU
ES
SV
TL
IW
ID
SR
SK
UK
VI
ET
HU
TH
TR
FA
MS
GA
HY
AZ
UR
BN
LA
MN
KK
